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XPS 방법

모두 6항목의 XPS 방법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 XPS 방법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학.

International Organization for Standardization (ISO), XPS 방법

• ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
• ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법

British Standards Institution (BSI), XPS 방법

• BS ISO 16531:2020 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES 및 XPS의 깊이 프로파일링을 위한 이온빔 정렬 방법 및 관련 전류 또는 전류 밀도 측정 방법
• 19/30399949 DC BS ISO 16531 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링을 위한 이온빔 정렬 방법 및 AES 및 XPS의 깊이 프로파일링을 위한 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, XPS 방법

• GB/T 34326-2017 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES 및 XPS 깊이 프로파일링 이온빔 정렬 방법 및 해당 빔 또는 빔 밀도 측정 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), XPS 방법

• ASTM E2735-13 X선 광전자 분광법(XPS) 실험에 필요한 교정 선택을 위한 표준 가이드

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