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일렉트로마이그레이션

모두 31항목의 일렉트로마이그레이션와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 일렉트로마이그레이션와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 지질학, 기상학, 수문학, 입자 크기 분석, 스크리닝, 수의학, 전기공학종합, 어휘, 종합 전자 부품, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 공기질, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정.

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 일렉트로마이그레이션

• IPC TM-650 5.5.4.8-1998 시험편 D 일렉트로마이그레이션 저항성
• IPC TM-650 2.6.14A-1987 전자 이동 방지 폴리머 솔더 마스크
• IPC TM-650 2.6.14C-2000 전기화학적 마이그레이션 방지 솔더 마스크
• IPC TM-650 2.6.14D-2007 솔더 마스크는 전기화학적 이동을 방지합니다.

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 일렉트로마이그레이션

• JEDEC JESD61A.01-2007 등온 일렉트로마이그레이션 테스트 절차
• JEDEC JESD61A-2007 등온선에 대한 일렉트로마이그레이션 테스트 절차
• JEDEC JESD61-1997 등온선에 대한 일렉트로마이그레이션 테스트 절차
• JEDEC JESD63-1998 극한의 회로 밀도 및 온도에 대한 일렉트로마이그레이션 모델 매개변수에 대한 표준 방법
• JEDEC JEP154-2008 일정한 전류 및 온도 스트레스 하에서 솔더 범프 일렉트로마이그레이션 특성화 가이드
• JEDEC JESD202-2006 정전류 및 온도 스트레스 하에서 상호 연결에 대한 일렉트로마이그레이션 실패 시간 할당 식별 방법

Danish Standards Foundation, 일렉트로마이그레이션

• DS/EN 62415:2010 반도체 장치-정전류 일렉트로마이그레이션 테스트
• DS/ISO 15900:2020 에어로졸 입자의 입자 크기 분포 차동 전기 이동도 분석 결정

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 일렉트로마이그레이션

• EN 62415:2010 반도체 장치-정전류 일렉트로마이그레이션 테스트

Association Francaise de Normalisation, 일렉트로마이그레이션

• NF EN 62415:2010 반도체 장치 – 정전류 일렉트로마이그레이션 테스트
• NF C80-201*NF EN 62415:2010 반도체 장치 정전류 전자 이동 테스트.

ES-UNE, 일렉트로마이그레이션

• UNE-EN 62415:2010 반도체 장치-정전류 일렉트로마이그레이션 테스트

German Institute for Standardization, 일렉트로마이그레이션

• DIN EN 62415:2010-12 반도체 장치-정전류 일렉트로마이그레이션 테스트
• DIN EN 62415:2010 반도체 장치 정전류 전자 이동 테스트(IEC 62415-2010), 독일어 버전 EN 62415-2010

International Electrotechnical Commission (IEC), 일렉트로마이그레이션

• IEC 62415:2010 반도체 장치, 정전류 일렉트로마이그레이션 테스트

British Standards Institution (BSI), 일렉트로마이그레이션

• BS EN 62415:2010 반도체 장치, 정전류 일렉트로마이그레이션 테스트
• BS ISO 15900:2020 에어로졸 입자의 입자 크기 분포 차동 전기 이동도 분석 결정
• 19/30370177 DC BS ISO 15900 입자 크기 분포 결정 에어로졸 입자의 시차 전기 이동도 분석

Lithuanian Standards Office , 일렉트로마이그레이션

• LST EN 62415-2010 반도체 장치 - 정전류 전자 이동 테스트(IEC 62415:2010)

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 일렉트로마이그레이션

• IPC TM-650 2.6.14.1-2000 전기화학적 이동 저항 테스트

Professional Standard - Meteorology, 일렉트로마이그레이션

• QX/T 72-2007 대기권 초미세입자의 입자크기 스펙트럼 분포의 전자이동 분석방법

Group Standards of the People's Republic of China, 일렉트로마이그레이션

• T/QGCML 2183-2023 전기영동 이동성 실험을 위한 기술 사양
• T/GDASE 0010-2020 그래핀 필름의 전자 이동도 측정

RU-GOST R, 일렉트로마이그레이션

• GOST 25532-1989 전하 이동 감광성 장치 용어 및 정의

Association of German Mechanical Engineers, 일렉트로마이그레이션

• VDI 3867 Blatt 3-2012 대기 중 입자상 물질 측정 에어로졸 입자 수 농도 및 수 직경 분포 결정 전자 이동 분광계

American Society for Testing and Materials (ASTM), 일렉트로마이그레이션

• ASTM F1260M-96 전체 금속화 및 집적 회로의 전자 이동 중앙값 고장 시간을 평가하기 위한 표준 테스트 방법(미터법 단위)
• ASTM F1260M-96(2003) 전체 금속화 및 집적 회로의 전자 이동 중앙값 고장 시간을 평가하기 위한 표준 테스트 방법(미터법 단위)

기타:   일렉트로마이그레이션 표준, 금속 전자이동, 전자이동 입자 크기, 일렉트로마이그레이션, 일렉트로마이그레이션, 금속의 전자이동, 금의 일렉트로마이그레이션, 전자이주분석시스템, 금속 전자이동, 텔루르 전자이동, 일렉트로마이그레이션 분석, 전자이동 온도, 일렉트로마이그레이션 분석, 전자이동 스펙트럼, 일렉트로마이그레이션 감지, 금 일렉트로마이그, 인듐 일렉트로마이그레이션, 전기박스 마이그레이션, 일렉트로마이그레이션 테스트, 일렉트로마이그레이션 매개변수.