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Elektromigration

Für die Elektromigration gibt es insgesamt 31 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Elektromigration die folgenden Kategorien: Diskrete Halbleitergeräte, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Geologie, Meteorologie, Hydrologie, Partikelgrößenanalyse, Screening, Tierheilkunde, Elektrotechnik umfassend, Wortschatz, Umfangreiche elektronische Komponenten, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Luftqualität, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen.


IPC - Association Connecting Electronics Industries, Elektromigration

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Elektromigration

  • JEDEC JESD61A.01-2007 Testverfahren für isotherme Elektromigration
  • JEDEC JESD61A-2007 Testverfahren für isotherme Elektromigration
  • JEDEC JESD61-1997 Testverfahren für isotherme Elektromigration
  • JEDEC JESD63-1998 Standardmethode zur Berechnung der Parameter des Elektromigrationsmodells für Stromdichte und Temperatur
  • JEDEC JEP154-2008 Leitfaden zur Charakterisierung der Elektromigration von Löthöckern unter konstanter Strom- und Temperaturbelastung
  • JEDEC JESD202-2006 Methode zur Charakterisierung der Elektromigrations-Ausfallzeitverteilung von Verbindungen unter konstanter Strom- und Temperaturbelastung

Danish Standards Foundation, Elektromigration

  • DS/EN 62415:2010 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest
  • DS/ISO 15900:2020 Bestimmung der Partikelgrößenverteilung – Differenzielle elektrische Mobilitätsanalyse für Aerosolpartikel

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Elektromigration

  • EN 62415:2010 Semiconductor devices - Constant current electromigration test

Association Francaise de Normalisation, Elektromigration

ES-UNE, Elektromigration

  • UNE-EN 62415:2010 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest (von AENOR im September 2010 empfohlen.)

German Institute for Standardization, Elektromigration

  • DIN EN 62415:2010-12 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest (IEC 62415:2010); Deutsche Fassung EN 62415:2010
  • DIN EN 62415:2010 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest (IEC 62415:2010); Deutsche Fassung EN 62415:2010

International Electrotechnical Commission (IEC), Elektromigration

  • IEC 62415:2010 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest

British Standards Institution (BSI), Elektromigration

  • BS EN 62415:2010 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest
  • BS ISO 15900:2020 Bestimmung der Partikelgrößenverteilung. Differenzielle elektrische Mobilitätsanalyse für Aerosolpartikel
  • 19/30370177 DC BS ISO 15900. Bestimmung der Partikelgrößenverteilung. Differenzielle elektrische Mobilitätsanalyse für Aerosolpartikel

Lithuanian Standards Office , Elektromigration

  • LST EN 62415-2010 Halbleiterbauelemente – Konstantstrom-Elektromigrationstest (IEC 62415:2010)

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Elektromigration

Professional Standard - Meteorology, Elektromigration

  • QX/T 72-2007 Bestimmung der Anzahlgrößenverteilung von Submikronpartikeln mithilfe der Elektromobilitätsmethode

Group Standards of the People's Republic of China, Elektromigration

RU-GOST R, Elektromigration

  • GOST 25532-1989 Lichtempfindliche Ladungsübertragungsgeräte. Begriffe und Definitionen

Association of German Mechanical Engineers, Elektromigration

  • VDI 3867 Blatt 3-2012 Messung von Partikeln in der Umgebungsluft – Bestimmung der Partikelanzahlkonzentration und Anzahlgrößenverteilung von Aerosolen – Elektrisches Mobilitätsspektrometer

American Society for Testing and Materials (ASTM), Elektromigration

  • ASTM F1260M-96 Standardtestmethode zur Schätzung der mittleren Zeit bis zum Ausfall der Elektromigration und des Sigmas von Metallisierungen integrierter Schaltkreise [metrisch]
  • ASTM F1260M-96(2003) Standardtestmethode zur Schätzung der mittleren Zeit bis zum Ausfall durch Elektromigration und Sigma von Metallisierungen integrierter Schaltkreise [metrisch]




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