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X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

모두 344항목의 X선 응력 분석 및 X선 회절 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 X선 응력 분석 및 X선 회절 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 비철금속, 내화물, 발전소 종합, 방사선방호, 비파괴 검사, 화학 제품, 산업안전, 산업위생, 입자 크기 분석, 스크리닝, 무기화학, 건축 자재, 어휘, 금속 재료 테스트, 검은 금속, 광학 및 광학 측정, 공기질, 방사선 측정, 원자력공학, 비금속 광물, 철강 제품, 전자관, 금속 광석, 반도체 소재, 페인트 성분, 기르다, 합금철, 비철금속 제품, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 의료 장비, 실험실 의학, 광학 장비, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 석유제품 종합, 석탄, 수질, 사진 기술.


PT-IPQ, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

工业和信息化部, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • YS/T 1178-2017 알루미늄 슬래그 상 분석 X선 회절법
  • YB/T 172-2020 X-선 회절법을 이용한 실리카 벽돌의 정량적 상 분석
  • YS/T 1344.3-2020 주석 도핑된 산화인듐 분말의 화학적 분석 방법 제3부: 상 분석 X선 회절 분석 방법
  • YS/T 1160-2016 산업용 실리콘 분말의 정량상 분석 실리카 함량 결정 X선 회절 K 값 방법
  • YS/T 1033-2015 X선 형광 분광법을 이용한 건식 누출 방지 재료의 원소 함량 측정
  • YS/T 483-2022 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • YB/T 172-2000 실리카 벽돌의 정량상 분석.X선 회절법
  • YB/T 5320-2006 금속재료의 정량상 분석을 위한 X선 회절 K 값 방법
  • YB/T 5336-2006 X-선 회절법을 이용한 고속도강의 탄화물 상의 정량 분석
  • YB/T 4177-2008 슬래그 X선 형광분광법 분석방법

German Institute for Standardization, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
  • DIN EN 15305:2009-01 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
  • DIN EN 15305:2009 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법.
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X-선 회절 분석을 이용한 비파괴 시험 잔류 응력 분석 시험 방법
  • DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:2008 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:2008-08 방사선 분광학 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:2015-03 X선 분광법 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 교정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)
  • DIN EN 12698-2:2007 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 X선 광도법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 보정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리 추가 정보 및 계산 예
  • DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • DIN EN 13925-2:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 2부: 절차
  • DIN EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 일반 원리
  • DIN EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
  • DIN EN 13925-3:2005-07 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
  • DIN EN 13925-2:2003-07 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 - 2부: 절차
  • DIN 55912-2 Bb.2:1999 안료 이산화티타늄 안료 분석 방법 X선 형광 분석을 통한 검량선 개발
  • DIN EN 13925-1:2003-07 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 - 1부: 일반 원리
  • DIN EN 1330-11:2007-09 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어
  • DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
  • DIN 55912-2 Bb.1:1999 안료 이산화티타늄 안료 분석 방법 X선 형광 분석을 통한 미량 성분 측정의 예
  • DIN EN ISO 21587-2:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
  • DIN EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석

Association Francaise de Normalisation, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • NF EN 15305:2009 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
  • NF A09-185*NF EN 15305:2009 비파괴 시험 - X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
  • NF A09-285:1999 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
  • NF T25-111-3:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 3부: X선 회절의 방위각 분석
  • NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 X선 회절을 이용한 작업장 공기 호흡성 결정질 실리카 분석 2부: 간접 분석 방법
  • NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법.
  • NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • NF EN 13925-2:2003 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 2부: 절차
  • NF S92-502:2006 의료 생물 분석 실험실 인체 방사선학 폐 계수 저에너지 X선 및 알파선 방출기(200keV 미만)
  • NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 3부: 장비
  • NF EN ISO 12677:2011 X선 형광법에 의한 내화물의 화학적 분석 - 용융 비드법
  • NF EN 13925-1:2003 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 1부: 일반 원리
  • NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 X선 회절을 통한 작업장 공기의 호흡성 결정질 실리카 분석 1부: 직접 여과 방법
  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
  • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
  • NF EN 1330-11:2007 비파괴 검사 - 용어 - 파트 11: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 X선 형광 분석을 통한 석유 제품의 바나듐 및 니켈 함량 측정
  • NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 기본 원리
  • NF ISO 16258-2:2015 작업장 공기 중 X선 회절을 통한 결정질 실리카의 호흡 가능 분율 측정 2부: 간접 분석 방법
  • NF ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X선 회절 방법을 통한 결정질 실리카의 호흡 가능 분율 측정 1부: 직접 여과 분석 방법
  • NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • NF A11-103:1977 페로니오븀 합금의 화학적 분석 X선 형광 분광법을 통한 니오븀 측정
  • XP A06-379-1999 파장 산란 X선 형광 분광법의 일상적인 사용을 위한 표준 개발 지침
  • NF X11-683:1981 액체 내 다양한 높이에서 중력에 의해 침전된 분말 입자를 분석합니다.
  • NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
  • NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 용어.
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
  • NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)의 데이터 로깅 및 보고

Professional Standard - Electricity, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

American National Standards Institute （ANSI), X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

未注明发布机构, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • GB 16355-1996 X선 회절계 및 형광 분석기의 방사선 방호 표준
  • GB/T 30904-2014 무기화학제품의 결정구조 분석을 위한 X선 회절법
  • GB/T 19140-2003 시멘트의 X선 형광 분석을 위한 일반 원리
  • GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
  • GB/T 13710-1992 분석용 X선관 블랭크 상세 사양
  • GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • GB/T 16597-1996 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
  • GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
  • GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
  • GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
  • GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
  • GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
  • GB/T 19421.1-2003 층상 결정질 이규산나트륨의 시험 방법 델타상 층상 결정질 이규산나트륨의 정성 분석 X선 회절법
  • GB/Z 42520-2023 철광석 X선 형광 분광법 실험실 운영 가이드
  • GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
  • GB/T 6609.32-2009 알루미나의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 32부: α-알루미나 함량 측정 X선 회절 방법
  • GB/T 29513-2013 주조 유리판법을 이용한 철 함유 먼지 슬러지의 X선 형광 분광화학 분석
  • GB/T 21114-2007 내화물의 X선 형광 분광화학 분석 - 주조 유리판법
  • GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
  • GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • GB/T 17416.2-1998 지르코늄 광석의 화학적 분석 방법 X-선 형광 분광법을 통한 지르코늄 함량 및 하프늄 함량 측정.
  • GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법

Danish Standards Foundation, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • DS/EN 15305/AC:2009 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
  • DS/EN 15305:2008 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
  • DS/EN 13925-2:2003 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
  • DS/EN 13925-3:2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
  • DS/EN 13925-1:2003 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
  • DS/CEN/TR 10354:2012 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 Si 및 Al 측정
  • DS/EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석

Lithuanian Standards Office , X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • LST EN 15305-2008 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
  • LST EN 15305-2008/AC-2009 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
  • LST EN 13925-3-2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
  • LST EN 13925-2-2004 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
  • LST EN 13925-1-2004 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리

AENOR, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • UNE-EN 15305:2010 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
  • UNE-EN 13925-2:2004 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
  • UNE-EN 13925-3:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
  • UNE-EN 13925-1:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
  • UNE-EN 1330-11:2008 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • GB/T 36923-2018 진주분말 식별법 X선 회절분석
  • GB/T 40407-2021 포틀랜드 시멘트 클링커의 광물상의 X선 회절분석법
  • GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
  • GB/T 16597-2019 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
  • GB/T 21114-2019 내화물의 X선 형광 분광화학 분석을 위한 주조 유리 시트 방법
  • GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • JIS K 0131:1996 X선 회절계 측정 분석에 대한 일반 규칙
  • JIS K 0181:2021 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
  • JIS G 1256:1997 Steel.X선 형광 분광법
  • JIS H 1292:2018 구리 합금.X선 형광 분광법
  • JIS M 8205:2000 철광석 X선 형광 분광계 분석
  • JIS H 1292:2005 구리 합금의 X선 형광 분광법
  • JIS R 2216:2005 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
  • JIS H 1292:1997 구리 및 구리 합금의 X선 형광 분광법
  • JIS H 1287:2015 니켈 및 니켈 합금 X선 형광 분광 분석 방법
  • JIS H 1631:2008 티타늄 합금 X선 형광 분광법 분석 방법
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 강철.X선형광분광분석법
  • JIS G 1351:2006 철 합금 X-선 형광 분광법의 분석 방법
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 강철 X선 형광 분광법(수정 사항 2)
  • JIS A 1481-3:2014 건축 자재 제품의 석면 측정 3부: X선 회절을 통한 석면 함량 정량 분석
  • JIS R 2216:1995 내화벽돌 및 내화모르타르의 X선 형광분광법 분석방법
  • JIS R 5204:2002 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
  • JIS R 5204:2019 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
  • JIS A 1481-3 AMD 1:2022 건축 자재 제품의 석면 측정 3부: X선 회절을 통한 석면 함량 정량 분석(수정 사항 1)
  • JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성
  • JIS K 0145:2002 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • JIS K 0190:2010 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
  • JIS Z 4752-2-6:2001 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 파트 2-6: 안정성 테스트 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비
  • JIS Z 4752-2-6:2012 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 파트 2-6: 안정성 테스트 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비

British Standards Institution (BSI), X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • BS EN 15305:2008 비파괴 시험 X선 회절을 이용한 잔류 응력 분석 시험 방법
  • BS ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
  • BS ISO 17867:2020 입자 크기 분석 소각 X선 산란(SAXS)
  • DD ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 산란
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 입자 크기 분석 소각 X선 산란법
  • BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
  • BS ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 간접 분석 방법
  • PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
  • BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
  • BS ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 직접 여과법
  • BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
  • BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
  • BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS ISO 29581-2:2010 시멘트 시험방법 X선 형광법에 의한 화학적 분석
  • BS EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택사항) 습식 화학적 분석
  • BS ISO 15472:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 수준 교정
  • BS EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
  • BS EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
  • BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • PD ISO/TR 12389:2009 시멘트 테스트 방법 테스트 계획 보고서 X선 형광 화학 분석
  • BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
  • BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
  • BS EN 12698-2:2007 탄화규소 내화물에 결합된 질화물의 화학적 분석 광선 회절(XRD) 방법
  • BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • GBZ 115-2002 X선 회절 및 형광 분석기의 위생 보호 표준

International Organization for Standardization (ISO), X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

  • ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
  • ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 스퍼터링 방법
  • ISO 17867:2020 입자 크기 분석 SAXS(소각 X선 산란)
  • ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
  • ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
  • ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 2부: 간접 분석 방법
  • ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
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Professional Standard - Machinery, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

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Professional Standard - Education, X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), X선 응력 분석 및 X선 회절 분석

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