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20201208 原子力显微镜分析技术主题
原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。由于AFM独特的成像方式，使得它在科学研究工作中，如金属、半导体材料、微电子、物理、化学、生物、纳米材料、生命科学等众多科学领域中......
相关会议
20201201 云学院：牛津仪器EBSD-TKD技术
主讲人：王舟
杨小鹏
本次课程我们有幸邀请到香港大学机械工程系黄明欣教授课题组的王舟博士，为大家介绍如何利用EBSD与TKD技术在如超高强度钢、镀层分析中实现高空间分辨率分析。黄教授课题组长期从事超高强度钢的研发工作，在Science，Acta Materialia，Journal of the Mechanics and Physics of Solids等国际著名期刊发表SC......
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20201120 粉体粒度特性表征分析方法
主讲人：蔡小舒
周芳
粉体通常是指由大量的固体颗粒及颗粒间的空隙所构成的集合体，它直接影响产品的工艺性能和使用性能。例如水泥粒度决定水泥的凝结时间，抗菌粉体的粒度决定添加进纺织品后纺丝的效果，石蜡的粒度决定作为添加剂加入油墨后油墨的书写流利度等。粉体粒度及粒度分布表征方法主要有：筛分法、沉降法、显微镜法、电感计数法、激光粒度法以及电超声法等。全面的粉体表征可以让企业：减少浪费，提......
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相关会议
20201117 超低比表面物理吸附和真密度分析的技术突破及其应用
主讲人：杨正红
iPore 400全自动物理吸附分析仪是理化联科最新开发的按照欧洲标准设计制造的6站比表面和孔径分析仪，专门为了解决超低比表面材料的质量控制的痛点问题。该仪器从影响比表面测定的因素入手，严格控制由温度、体积和压力测量带来的误差，采用了一系列新技术，配合全自动智能脱气站，建立了新一代物理吸附仪的技术标准。iPore 400技术突破也为纳米薄膜的孔径分析建立了方......
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