CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜，专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品，可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上......
产品规格加速电压≤ 200kV有效像素数量1900万像素（5688 *3336）传感器感光尺寸36.4mm x 21.35mm像素尺寸6.4um x 6.4um......
多晶硅TEM图像以高对比度观察多晶硅双织构等精细结构。 聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP)......
Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子......
Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。 ......
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰，可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率（58 fps/全像素模式）设计使其在动态观察......
[分辨率]STEM0.16 nm (200 kV)TEM (晶格, 点)0.19 nm (200 kV)0.10 nm (晶格, 200 kV)[放大倍率]ST......
高端扫描系统JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan......
四级聚光镜系统现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-......
外观设计精炼精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜......
JEM-F200 场发射透射电子显微镜以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统......
产品规格：分辨率300 kV，80 kV物镜种类※1UHR极靴HR极靴STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器0.063nm0.082nmTEM分辨率（......
产品特点：强大的冷场发射电子枪HyperCF300标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。两种物镜极靴为了支持用户广泛的需......
产品特点：STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达63pm（300k......
产品特点：实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是......
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研......
产品规格：物镜极靴*1超高分辨UHR高分辨率HR高倾斜HT高衬度HC分辨率 点分辨率晶格分辨率0.17nm0.1nm0.19nm0.1nm0.21nm0.1nm......
产品特点： 镜筒内置式Ω型能量过滤器(omega 过滤器)镜筒内置式Ω型能量过滤器内置于成像透镜系统，能容易......
产品特点：镜筒内置式Ω型能量过滤器内置于成像透镜系统，能容易地获得能量过滤像和能量损失谱，同时还能获得与传统电子显微镜同等的放大倍率范围。此外、Ω型过滤器的电子......
产品特点：EM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新......
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