Accurate AFM Solutions for General ResearchTall Sample 1.5 µm step height扫描模式：非接......
使用Park NX10在nature上发表的论文有：1）Probing charge screening dynamics and electrochemica......
AFM Solutions for General ResearchTall Sample 1.5 µm step height扫描模式：非接触模式，Z轴位置传......
创新研究的理想选择Park NX10为您带来高精纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和拥有。无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析，Park NX10都可......
Park NX20技术参数扫描器Z扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围: 15 µm (可选 30 µm)高度信号噪声等级: 30 pm(R......
为FA和研究实验室提供精确的形貌测量解决方案样品侧壁三维结构测量 NX20的创新架构让您可以检测样品的侧壁和表面，并测量它们的角度。众多的功能和用途正是您的创新......
引领用于故障分析和大型样品研究的纳米计量工具作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器，其主要目的是对样品进行缺陷检测。而仪器所提供的数据不能允许有错误的存在。Park......
特点：◆介质和基底的表面粗糙度测量◆缺陷成像和分析◆高分辨率电子扫描模式◆3D结构边墙测量◆精确的原子力显微镜形貌和低噪音Z探测器规格参数： 型号Pa......
Park FX40 纳米科学研发界应运而生的的新型全自动原子力显微镜该产品可以通过多样化的应用程序，不费吹灰之力即可获得最敏锐、最清晰、最高分辨率的扫......
实现全自动技术的智能原子力显微镜Park FX只需鼠标一键操作，就能实现自动换针，以避免探针被污染或因操作不当而导致的探针损坏等问题。用户还可以根据......
纳米级的显微镜 硬核级的科技进步- 鼎力相助时代前沿的科技研发- ......
帕克原子力显微镜是全球第一个推出商业原子力显微镜产品的上市公司。帕克公司成立30多年来，始终致力于纳米领域的形貌和力学测量以及半导体先进制程工艺的计量的新技术新......
Park NX-TSH技术参数*本技术参数是可定制的。 请咨询Park原子力显微镜，以获取更多信息。系统技术参数样品尺寸*520 mm x 520 mm x 1......
Park NX-TSH技术参数*本技术参数是可定制的。 请咨询Park原子力显微镜，以获取更多信息。 系统技术参数样品尺寸*520 mm x 520 ......
专为OLED面板行业整片测量，LCD测量提供的全自动探针扫描器解决方案专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计Park原子力显微镜公司已经扩展了原子力显微镜设备的......
Park NX-TSH技术参数*本技术参数是可定制的。 请咨询Park原子力显微镜，以获取更多信息。系统技术参数样品尺寸*520 mm x 520 mm x 1......
NX-Hybrid WLI 功能Park WLI系统Park WLI支持WLI和PSI模式（PSI模式由电动过滤器变换器 支持）可用物镜放大倍数：2.5X 、1......
半导体计量的两种最佳互补技术。WLI: 白光干涉测量是一种光学技术，它可以对非常宽的区域进行成像，速度非常快，满足高吞吐量测量。AFM: 原子力显微镜是一种扫描......
产品介绍Park NX-Hybrid WLIAFM 和 WLI 技术集成系统用于 200mm至 300mm 晶圆的全自动工业化 AFM-WLI 系统是业内最快捷......
WLI应用需要比WLI 能力更高的分辨率和精度先进的化学机械抛光计量和监测先进封装全掩模的热点和缺陷检测晶圆级计量AFM应用需要更大的区域和更高的吞吐量In-l......
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