用于故障分析和大型样品研究的领先纳米计量工具作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器，其主要目的是对样品进行缺陷检测。而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Par......
Park NX20技术参数扫描器Z扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围: 15 µm (可选 30 µm)高度信号噪声等级: 30 pm(R......
为FA和研究实验室提供精确的形貌测量解决方案样品侧壁三维结构测量 NX20的创新架构让您可以检测样品的侧壁和表面，并测量它们的角度。众多的功能和用途正是您的创新......
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特点：◆介质和基底的表面粗糙度测量◆缺陷成像和分析◆高分辨率电子扫描模式◆3D结构边墙测量◆精确的原子力显微镜形貌和低噪音Z探测器规格参数： 型号Pa......
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