XDAL系列X射线荧光光谱仪(超薄镀层探测器)

• 采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准，用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪

• 3种不同的探测器可选（Si-PIN二极管；SDD 20 mm²；SDD 50 mm²）

• 3种可切换基本滤片

• 4种可切换准直器

• 最小测量点约为0.15mm

• 样品最高高度可达14cm

• 可编程XY工作台，定位精度为10µm

• 开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板

• 经过认证的全面保护设备

• 镀层和合金（也包括薄涂层和低浓度）的材料分析

• 电子行业，ENIG，ENEPIG

• 连接器和触点

• 黄金，珠宝和制表业

• PCB制造薄金（几纳米）和钯镀层的测量

• 微量元素分析

• 高可靠性应用的铅（Pb）的测定（避免锡晶须）

• 对硬质材料涂层的分析

FISCHERSCOPE®X射线 XDAL®是 XDL系列中最好的X射线荧光测量仪器。 和它的“小兄弟”一样，它是从上到下方向测量的，这使得测试形状奇怪的样品也变得轻松便捷，为了优化您的任务的测量条件，配有可互换的准直器和过滤器作为标准配置。

对测量任务的要求越高，探测器的类型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射线 XDAL提供了3种不同的半导体探测器。

硅PIN二极管是一种中档检测器，非常适合在相对较大的测量区域内测量多个元素。配备PIN的XDAL通常用于检查硬质材料涂层。

与硅PIN二极管相比，高质量的硅漂移检测器（SDD）具备更好的能量分辨率。如此配备的XDAL光谱仪可用于解决电子行业中的复杂测量任务：例如，测量薄合金层，或非常相似的元素（如金和铂）的材料分析。这款值得信赖的XRF仪器可用于ENIG和ENEPIG应用的质量控制

对于特别棘手的挑战，Fischer还提供带有超大探测器表面的SDD。该探测器的优势在于它能够可靠地测量纳米级的镀层，并进行痕量分析。使用这些XDAL设备，您可以测试用于高可靠性应用的焊料中的铅含量，从而避免锡须。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途