FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列X射线荧光分析仪

• 根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪

• 高端半导体检测器（PIN和SDD） 确保出色的检测精度和高分辨率

• XAN 250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素；

• 准直器：固定或4种可切换，最小测量点约为0.3mm

• 基本滤片：固定或6种可切换

• 固定样品支架或手动XY载物台

• 摄像头可轻松定位最佳测量位置

• 样品高度最多17厘米;

• 牙科合金的无损分析，银测试

• 多层镀层测试

• 电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析

• 消费者保护中的痕量分析，例如测试玩具中的铅含量

• 根据珠宝业和炼油厂最高精度要求测量金属合金含量

和XUL系列一样，FISCHERSCOPE®X射线XAN®仪器非常适合分析简单形状的样品。然而，XAN系列的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光不仅可以测量镀层的厚度，还可以分析合金（例如铜）的成分。

XAN系列总共包括5款台式XRF光谱仪，涵盖广泛的应用范围。XAN215具有经济高效的PIN检测器。非常适合简单的镀层厚度任务，例如铁上的锌层或Au/Ni/Cu。对于更复杂的合金或贵金属应用，我们建议使用带有硅漂移检测器SDD的设备（例如XAN220）：由于其分辨率更高，可以可靠地区分金和铂。当您需要检测痕量重金属和其他有害物质时，XAN250是您的理想选择。

在 XAN 220, XAN 222, XAN 250和XAN 252上，您现在可以更高精度和更快速度完成测量。与GOLDSCOPE SD 520和SD 550，这些仪器都配备了完全由Fischer自主研发的最新数字脉冲处理器DPP+。通过将新处理器与同样新获得的拥有更大有效面积(50 mm²)的硅漂移探测器相结合，可获得并处理更多的信号，同时还能保证极佳的能量分辨率。因此，您的收益是：最多可缩短2/3的测量时间，或者减少绝对标准偏差最高达45%。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列X射线荧光分析仪信息由菲希尔测试仪器（中国）有限公司为您提供，如您想了解更多关于FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列X射线荧光分析仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途