XDV-SDD高端全能型X摄像荧光光谱仪

• 高端泛用的XRF分析仪，用于超薄镀层 (<0.05μm) 的自动测量和低于每密耳范围的精细材料分析，符合ISO 3497 和 ASTM B 568 标准

• 带钨靶的微聚焦射线管

• 4个可切换的准直器，用于优化测量条件

• 6种可切换的滤波器，为更复杂的测量任务提供最佳的激发条件

• 极其强大的硅漂移探测器 (SDD) ，具有50 mm²的超大有效面积

• 数字脉冲处理器 DPP+ ，用于提高计数率，减少测量时间或提高测量结果的重复性

• 分析从 Al(13) 到 U(92) 的元素

• 样品高度可达 14cm

• 高精度、可编程的 XY 平台，定位精度 < 5 µm，用于小结构的自动测量

• 采用DCM方法，可简单、快速地调整测量距离

• 完全受保护的仪器，根据现行的辐射保护法规获得型号认证

• 测量电子和半导体工业中功能性镀层，例如，低至2nm的金镀层的厚度测量

• 分析电子和半导体行业的薄镀层和极薄镀层，例如 ≤0.1µm 的 Au/Pd 镀层

• 测定复杂的多层系统

• 测量硬质材料涂层

• 光伏行业的涂层厚度测量

• 根据RoHS、WEEE、CPSIA和其他电子产品、包装和消费品的指令，对铅和镉等有害物质进行痕量分析

• 黄金和其他贵金属及其合金的分析和真实性测试

• 直接测定功能性NiP镀层中的磷含量。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD是Fischer产品组合中最强大的X射线荧光仪器之一。这台XRF光谱仪配备了高分辨率和强大的硅漂移探测器 (SDD) ，其有效面积为 50 mm² 。这使您可以精确地、无损地测量最薄的涂层--例如，引线框架上约 2nm 厚的金镀层。

结合内部开发的新数字脉冲处理器DPP+，您可以将您的测量性能提高到一个新的水平。现在可以处理更高的计数率，从而缩短测量时间或提高测量结果的重复性。同时，XDV-SDD完全适用于非破坏性的材料分析。例如，它对塑料中的微量铅的检测灵敏度约为2ppm - 比RoHS或CPSIA中要求的数值低几个数量级。

为了给每个XRF涂层厚度测量创造理想的条件，XDV-SDD有可切换的准直器和初级滤波器，可以工作在科学的状态下。这款极其坚固的设备，有直观的控制面板，通过操纵杆和按钮，很容易操作，专为工业用途的连续测试而设计。

XDV-SDD高端全能型X摄像荧光光谱仪信息由菲希尔测试仪器（中国）有限公司为您提供，如您想了解更多关于XDV-SDD高端全能型X摄像荧光光谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途