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反射式膜厚测量仪FE-3000

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参考报价: 面议 型号: FE-3000
品牌: 大塚电子 产地: 日本
关注度: 456 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

反射式膜厚量测仪的产品特点

  • 完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。

  • 利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm

  • 利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜厚,光学常数(n:折射率,k:消光系数)等薄膜特性。

  • 利用背面反射补正,对应透明基板

  • 可测量微小光斑(*小3μm)的分光光谱

  • 可对应大型样品

光学系图

 

式样

样品尺寸 200mm*200mm*7mm(厚度)
测量膜厚范围 1nm-1mm
测量波长范围 190nm~1600nm
可测量层膜数 *大50层
传感器 电子冷却型光电二极管配列

电子冷却型CCDarea image sensor

测量项目

多层膜解析

光学常数解析(n:折射率k:消光系数)

绝对反射率

测量实例

 

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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