薄膜厚度测量系统Delta白光干涉测厚仪
tel: 400-6699-117 转 5037贝拓科学白光干涉测厚仪, Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表......
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产品型号: Delta
品牌:贝拓科学
产品产地:广东
产品类型:国产
原制造商:贝拓科学
状态:在售
厂商指导价格: 10~20万元[人民币]
上市时间: 2014-03-14
英文名称: Delta
优点:Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。
参考成交价格: 10~20万元[人民币]
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