IONTOF二次离子质谱/离子探针, 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是一种非常灵敏的分析系统。通过对样品表面进行轰击产生的二次离子，可以精确确定表面元素的构成。通过对分子离子峰和官能团碎片的分析可以方便的确定表面化合物和有机样品的结构。配合样品表面扫描和剥离，可以得到样品表面甚至三维的成分图。系统应用的领域非常广泛，可以用于材料表面和表层的化学成份分析。化学元素或化合物在表面和块体材料内部的分布。以及生物组织表面和内部成份和分布分析。包括如半导体，医药，生物，冶金，汽车等领域。对样品的分析，如痕量金属探测，化合物结构测定，精确原子量测定，同位素标定，失效分析等方面研究应用广泛。许多用XPS，AES等分析不能确定的物质，都可以采用飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）分析。