TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
tel: 400-6699-117 转 5963泰思肯二次离子质谱/离子探针, TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D......
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产品型号:FIB-SEM-TOF-SIMS
品牌:泰思肯
产品产地:捷克
产品类型:进口
原制造商:泰思肯Tescan
状态:在售
厂商指导价格: 面议
上市时间: 2016-08-09
英文名称:FIB-SEM-TOF-SIMS system
优点:TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D 化学表征和分子信息,高离子质量分辨率和高空间分辨率成像等,并可以进行原位 FIB 深度分析。
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