原子吸收分析法中--光谱干扰消除与抑制
按照光谱干扰分类为谱线干扰和背景干扰,光谱干扰的消除和抑制也可以划分为两类。
首先,谱线干扰是由单色器光谱通带内进入了发射线的临近线或其他吸收线引起的,因此可通过提高仪器分辨度来减小误差,具体做法是减小单色器的光谱通带的宽度,从而使元素的共振吸收线与干扰曲线完全分开,只允许共振吸收线通过。此外,还可以通过降低灯电流或者选择没有干扰的其他吸收线的方法,从而将共存的干扰元素分离出来。
背景干扰是在原子化过程中,由于分子吸收和固体微粒产生的光散射而造成的干扰效应,是无法消除的,在具体实践中,通常采用抑制或校正背景干扰的方法来减小误差。火焰原子吸收是背景吸收的一个重要部分,因此,背景干扰的抑制一般可从改变火焰类型、燃助比和调节火焰观测区高度来抑制分子吸收干扰。在石墨炉原子吸收光谱分析中,常添加基体改进剂,选择性地抑制分子吸收的干扰。
此外,还可以采取光谱背景校正的方法降低测定误差,即先对背景吸收进行测定,确定背景吸收的值,再在待测物测定后去掉这部分误差值。
背景吸收校正( background absorption correction)主要有邻近线法、连续光源(在紫外光区通常用氘灯)法 、塞曼(Zeeman) 效应法等。邻近线背景校正法是用分析线测量原子吸收与背景吸收的总吸光度,再选一条与分析线相近的非吸收线,测得背景吸收。两次测量的吸光度相减,即为扣除背景后原子吸收的吸光度值。连续光源法是用氘灯与锐线光源 ,采用双光束外光路,使入射强度相等的两灯发出的光辐射交替地通过原子化器 ,用锐线光源测定的吸光度值为原子吸收和背景吸收的总吸光度,而用氘灯测定的吸光度仅为背景吸收,两者之差即是经过背景校正后的被测定元素的吸光度值。
塞曼效应校正背景是利用在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象进行的。磁场将吸收线分裂为具有不同偏振方向的组分,利用这些分裂的偏振成分来区别被测元素和背景的吸收。寒曼效应校正背景法分为两大类— 光源调制法与吸收线调制法。光源调制法是将强磁场加于光源,吸收线调制法是将磁场加于原子化器,后者应用较广。
