测定干扰及其抑制
（1）电离干扰 电离干扰（ionizationinterference）是由于待测元素在原子化过程中发生电离使参与吸收的基态原子减少而造成吸光度下降的现象。采用低温火焰和加入消电离剂可以有效地抑制和消除电离干扰。
（2）基体干扰 基体干扰（matrixinterference），又称为物理干扰，指试样在转移、蒸发和原子化过程中，由于试样物理特性（如密度、压力、粘度、表面张力）的变化而引起吸收强度下降的效应。物理干扰是非选择性干扰，配制与被测试样相似组成的标准样品或采用标准加入法进行分析是消除物理干扰的主要方法。
（3）光学干扰 光学干扰（opticalinterference）是指原子光谱对分析线的干扰，主要包括光谱线干扰和非吸收线干扰。
光谱线干扰是指在所选光谱通带内，被测元素的分析线与试样中共存元素的吸收线相近或重叠而产生的干扰，造成分析结果偏高。通常通过另选分析线或用化学方法分离共存元素来消除光谱线干扰。
非吸收线干扰是一种背景吸收，是指原子化过程中生成的气体分子、氧化物、盐类等对共振线的吸收及微小固体颗粒使光产生散射而引起的干扰。非吸收线干扰是宽带吸收，干扰比较严重。原子吸收分析中多用HNO3、HCl及它们的混合物来配制溶液。
（4）化学干扰 化学干扰（chemicalinterference）是指在溶液或气相中，由于待测元素与其它组分之间发生化学反应而离解和原子化的现象。化学干扰是原子吸收分析中的主要干扰来源。消除化学干扰，一般采取下列抑制方法：①加入释放剂，释放剂与干扰组分形成更稳定或更难挥发的化合物，使被测元素释放出来；②加入保护剂，保护剂与被测元素形成稳定而又易于分解和原子化的配合物；③适当提高火焰温度，抑制或避免某些化学干扰的发生。
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