塞曼效应校正背景的原理
当光源处于一定强度的磁场内时,光源发射出单一波长的谱线分裂为π,α±三种不同波长的谱线,π和α±偏振方向互相垂直π(可用P表示)保持原来波长,和磁场方向平行,α±(可用P⊥表示)为离开原波长0.1A以上的两条谱线,和磁场方向垂直。由于基态原子只吸收波长差在0.1A以下的共振线,而背景吸收波长范围从10A到200A.所以基态原子仅吸收π成分,而背景不管π或α±都能吸收。因此:π成分所得信号=原子吸收+背景吸收,α±成分所得信号=背景吸收。
无论采用永磁,还是交变磁场,横向磁场塞曼效应同时存在π和α±成分,无磁场(H=0)时,原子吸收线不发生塞曼分裂,与通常原子吸收一样,测量原子吸收和背景吸收;有磁场(H=Hmax)时,原子吸收线分裂为π、α±组分。在光路中放置一个偏光元件,只允许光源辐射光中与磁场方向垂直的偏振光成分(α±组分)通过,π组分被偏振器过滤除去,此时测量的为背景吸收。差减法(由仪器自动完成)扣除背景后为校正了背景的被测元素的吸收信号。要采用偏振镜把π和α±分离开,光强几乎损失50%,仪器信噪比变差。纵向磁场(磁场方向平行于光源发射光的方向不用偏振镜),没有磁场时,得到原子吸收+背景吸收;有磁场时,仅有α±成分,得到背景吸收。由于不用偏振镜,信噪比大大改善。
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