原子力显微镜的原则相关介绍
原子力显微镜包括一个悬臂，其末端有一个尖锐的尖端(探针)，用于扫描样品表面。悬臂通常是硅或氮化硅，其尖端曲率半径为纳米量级。当尖端靠近样品表面时，尖端和样品之间的力导致悬臂根据胡克定律偏转。[5] 根据这种情况，原子力显微镜测量的力包括机械接触力、范德华力、毛细管力、化学键、静电力、磁力(见磁力显微镜，MFM)，卡西米尔力、溶解力等。除了力之外，还可以通过使用特殊类型的探针同时测量额外的量(参见扫描热显微镜、扫描焦耳膨胀显微镜、光热显微镜等)。
原子力显微镜可以在多种模式下工作，具体取决于应用。 通常，可能的成像模式分为静态（也称为接触）模式和悬臂以给定频率振动或振荡的各种动态（非接触或“敲击”）模式。
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