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全新CCS数据库：用于代谢组学/脂质组学生物标志物的结构鉴定 | Webinar预告
囊括900多个内源性物质的CCS（碰撞截面积）数据库，提高分析人员对非目标性生物标志物鉴定的信心
美国圣安东尼奥市，6月20日 - 沃特世公司针对基于离子淌度质谱技术的科学研究推出了全新的代谢组学/脂质组学分析数据库。在美国质谱协会（ASMS）第64届年会上已隆重介绍了这款全新的数据库。此数据库囊括900多个化合物的碰撞截面（CCS）测得值，CCS值体现了测量气态离子的三维构象，为确认生物标志物的结构提供了另一个参数。此外，数据库中还包括600个化合物MS/MS质谱图，用于生物标志物的结构确认。
本数据库已整合至沃特世公司独有的软件平台Waters UNIFI®科学信息系统中，该平台兼具仪器控制、数据分析、可视化以及色谱和质谱结果管理功能。此外，该数据库还可与Progenesis® QI软件联合使用。
通过将分子截留在一个球体中来说明CCS值的计算 — 该分子的CCS值可视为这个球体所投射的“阴影”
借助全新的CCS数据库，科学家们可以通过离子淌度分离技术准确鉴定复杂样品基质中的生物标志物。CCS值是一项精确的离子物理化学性质，与气态离子的大小、形状和所带电荷有关。在样品量有限且样品高度复杂的非靶向代谢组学/脂质组学研究中，研究人员可利用数据库中的CCS值确认不同样品组中表现出显著统计差异的内源性代谢物和脂质的鉴定结果。
适用于UNIFI的代谢组学/脂质组学分析CCS数据库可与Vion™ IMS QTof和SYNAPT® G2-Si HDMS®系统配合使用，使高分辨淌度质谱的使用更加简单方便。高分辨淌度质谱技术与Progenesis QI软件配合使用，可以帮助从事生物标志物鉴定的研究人员在代谢组学脂质组学获得稳定可靠的鉴定结果。（新闻来源：美国商业资讯）
近期，沃特世将举办免费网络讲座“Vion离子淌度质谱在代谢组学中的应用”，将就CCS（碰撞截面积）数据库内容进行具体阐述，并介绍离子淌度质谱技术及其在代谢组学生物标志物的结构确认中的独特优势，欢迎各位报名参加。
时间：6月28日（周二），下午2:00-3:30
题目：Vion离子淌度质谱在代谢组学中的应用
主讲人：白旭 沃特世高级应用工程师
讲座概要：
1. Vion离子淌度高分辨质谱简介
2. 离子淌度应用概述
3. 使用离子淌度质谱进行大黄不同提取物，改善慢性肾脏病的肾损伤血浆脂质组与代谢组的研究
