质谱 离子峰

MALDI SYNAPT G2-Si和离子淌度质谱

沃特世, zei高分辨率MALDI模式下35000，可增加离子淌度分析

timsTOF fleX空间定位组学捕集离子淌度质谱（Q-TOF）

布鲁克, timsTOF fleX配备布鲁克独有的10 kHz SmartBeam™ 3D激光源，具有真正的像素保真度，可在高空间分辨率下进行快速、无标记的MALDI成像。

QTRAP™ 6500 三重四极杆-线性离子阱复合质谱系统

SCIEX, 灵敏度提高10倍，检测器动态范围提高20倍

QTRAP 6500+ 三重四极杆-线性离子阱复合质谱系统

SCIEX, 极性切换只需5毫秒，定量性能更好，对UHPLC的速度更兼容

LCQ Fleet离子阱液质联用仪

赛默飞, 三维离子阱技术的集大成者，并应用了线性离子阱的技术，良好的用户基础

LTQ XL增强型线性离子阱质谱仪

赛默飞, 超高性能的线性离子阱，兼顾定性和定量，可接合zl的ETD技术深化蛋白质组学研究

DART实时直接分析质谱离子源

IonSense, 实时直接分析新技术，无需液相，能连各家液质

LTQ FT Ultra增强线性离子阱回旋组合质谱仪

赛默飞, 在LCMS在线联用中，结合离子阱多级质谱和FT ICR的高分辨能力，低分辨和高分辨质谱可同时或独立工作, 得到丰富质谱信息和高精度质谱数据

ITQ 700/900/1100离子阱气相色谱/质谱联用仪

赛默飞, MS/MS和MSⁿ，选择性高灵敏度，适用于复杂基体中样品分析。ACE自动优化碰撞能量，AGC控制，外置离子源，定性定量准确，用户基础深厚

TOF.SIMS 5 飞行时间二次离子质谱

IONTOF, 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是一种非常灵敏的分析系统。通过对样品表面进行轰击产生的二次离子，可以精确确定表面元素的构成。通过对分子离子峰和官能团碎片的分析可以方便的确定表面化合物和有机样品的结构。配合样品表面扫描和剥离，可以得到样品表面甚至三维的成分图。系统应用的领域非常广泛，可以用于材料表面和表层的化学成份分析。化学元素或化合物在表面和块体材料内部的分布。以及生物组织表面和内部成份和分布分析。包括如半导体，医药，生物，冶金，汽车等领域。对样品的分析，如痕量金属探测，化合物结构测定，精确原子量测定，同位素标定，失效分析等方面研究应用广泛。许多用XPS，AES等分析不能确定的物质，都可以采用飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）分析。