KS D ISO 17974-2011(2016)
表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学状态分析用能标的校准
Surface chemical analysis－High-resolution Auger electron spectrometers－Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
KS D ISO 17974-2011(2016) 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- KS D ISO 17974-2011(2016)
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 韩国科技标准局
- 替代标准
- KS D ISO 17974-2021
- 当前最新
- KS D ISO 17974-2021
KS D ISO 17974-2011(2016)相似标准
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表面分析（四）
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表面分析技术的特征比较
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XPS能谱仪--XPS谱图分析技术
其中一种最常见的退激发过程就是产生俄歇电子跃迁的过程,因此X射线激发俄歇谱是光电子谱的必然伴峰。对于有些元素,XPS的化学位移非常小,不能用来研究化学状态的变化。这时XPS中的俄歇线随化学环境的不同会表现出明显的位移,且与样品的荷电状况及谱仪的状态无关,因此可以用俄歇化学位移(例如测定Cu,Zn,Ag)及其线形来进行化学状态的鉴别。通常,通过计算俄歇参数来判断其化学状态。...