KS D ISO 17974-2011(2016)
表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学状态分析用能标的校准

Surface chemical analysis-High-resolution Auger electron spectrometers-Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 KS D ISO 17974-2011(2016) 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
KS D ISO 17974-2011(2016)
发布
2011年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS D ISO 17974-2011(2021)
当前最新
KS D ISO 17974-2011(2021)
 
 

KS D ISO 17974-2011(2016)相似标准


推荐

2020年度中国标准创新贡献奖公布 多项与仪器分析标准相关

60个中国标准创新贡献奖标准项目中,有多个与项目与仪器分析方法标准相关,如GB/T 26533—2011《电子分析方法通则》等8项标准,涉及的标准有1. GB/T 26533—2011《电子分析方法通则》;2. GB/T 29731—2013《表面化学分析 高分辨电子 元素化学分析能量标校准》;3....

XPS--XPS分析技术

参数是指XPS图中窄电子峰的动能减去同一元素最强的光电子峰动能。它综合考虑了电子电子两方面的信息,因此可以更为精确地研究元素化学状态。(d)XPS价带谱分析XPS价带反应了固体价带结构的信息,由于XPS价带与固体的能带结构有关,因此可以提供固体材料的电子结构信息。例如,在石墨,碳纳米管C60分子的价带谱上都有三个基本峰。这三个峰均是由共轭π键所产生的。...

表面分析(四)

1925年法国的P.V.首先发现并解释了这种二次电子,后来被人们称为电子,但直到1967年电子技术才用于研究金属问题。通过能量分析检测系统来检测电子能量强度,可获得有关表面化学成分的定性定量信息,以及化学状态电子态等情况。在适当的实验条件下,该方法对试样无破坏作用,可分析试样表面内几个原子层深度、数微米区域内除氢氦以外的所有元素,对轻元素超轻元素很灵敏。...

表面分析技术的特征比较

1925年法国的P.V.首先发现并解释了这种二次电子,后来被人们称为电子,但直到1967年电子技术才用于研究金属问题。通过能量分析检测系统来检测电子能量强度,可获得有关表面化学成分的定性定量信息,以及化学状态电子态等情况。在适当的实验条件下,该方法对试样无破坏作用,可分析试样表面内几个原子层深度、数微米区域内除氢氦以外的所有元素,对轻元素超轻元素很灵敏。...


KS D ISO 17974-2011(2016) 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号