KS D ISO 17974-2011(2016)
表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学状态分析用能标的校准
Surface chemical analysis－High-resolution Auger electron spectrometers－Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
KS D ISO 17974-2011(2016) 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- KS D ISO 17974-2011(2016)
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 韩国科技标准局
- 替代标准
- KS D ISO 17974-2011(2021)
- 当前最新
- KS D ISO 17974-2011(2021)
KS D ISO 17974-2011(2016)相似标准
推荐
表面分析（四）
1925年法国的P.V.俄歇首先发现并解释了这种二次电子，后来被人们称为俄歇电子，但直到1967年俄歇电子能谱技术才用于研究金属问题。通过能量分析器和检测系统来检测俄歇电子能量和强度，可获得有关表面层化学成分的定性和定量信息，以及化学状态、电子态等情况。在适当的实验条件下，该方法对试样无破坏作用，可分析试样表面内几个原子层深度、数微米区域内除氢和氦以外的所有元素，对轻元素和超轻元素很灵敏。...
表面分析技术的特征比较
1925年法国的P.V.俄歇首先发现并解释了这种二次电子，后来被人们称为俄歇电子，但直到1967年俄歇电子能谱技术才用于研究金属问题。通过能量分析器和检测系统来检测俄歇电子能量和强度，可获得有关表面层化学成分的定性和定量信息，以及化学状态、电子态等情况。在适当的实验条件下，该方法对试样无破坏作用，可分析试样表面内几个原子层深度、数微米区域内除氢和氦以外的所有元素，对轻元素和超轻元素很灵敏。...
表面分析的分析方法
1925年法国的P.V.俄歇首先发现并解释了这种二次电子，后来被人们称为俄歇电子，但直到1967年俄歇电子能谱技术才用于研究金属问题。通过能量分析器和检测系统来检测俄歇电子能量和强度，可获得有关表面层化学成分的定性和定量信息，以及化学状态、电子态等情况。在适当的实验条件下，该方法对试样无破坏作用，可分析试样表面内几个原子层深度、数微米区域内除氢和氦以外的所有元素，对轻元素和超轻元素很灵敏。...
XPS能谱仪--XPS谱图分析技术
其中一种最常见的退激发过程就是产生俄歇电子跃迁的过程,因此X射线激发俄歇谱是光电子谱的必然伴峰。对于有些元素,XPS的化学位移非常小,不能用来研究化学状态的变化。这时XPS中的俄歇线随化学环境的不同会表现出明显的位移,且与样品的荷电状况及谱仪的状态无关,因此可以用俄歇化学位移(例如测定Cu,Zn,Ag)及其线形来进行化学状态的鉴别。通常,通过计算俄歇参数来判断其化学状态。...