IEC PAS 62162:2000
微电子器件抗静电放电阈值的场诱导放电装置模型的试验方法
Filed-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components
- 标准号
- IEC PAS 62162:2000
- 发布
- 2000年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC PAS 62162:2000
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