YS/T 24-2016
外延钉缺陷的检验方法

Inspection methods for epitaxial nail defects

YST24-2016, YS24-2016


哪些标准引用了YS/T 24-2016

 

找不到引用YS/T 24-2016 外延钉缺陷的检验方法 的标准

标准号
YS/T 24-2016
别名
YST24-2016
YS24-2016
发布
2016年
发布单位
工业和信息化部
当前最新
YS/T 24-2016
 
 
被代替标准
YS/T 24-1992

YS/T 24-2016相似标准

GB/T 14139-2009 硅外延片 YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法 T/IAWBS 002-2017 碳化硅外延片表面缺陷测试方法 SJ/Z 1610-1980 硅外延片缺陷图集 0 半导体工艺材料的检验.硅晶体外延层缺陷种类和缺陷密度的测定


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号