SJ 3244.2-1989
砷化镓、磷化铟衬底与异质结外延层之间晶格失配的测量方法

Methods of measurement for crystal lattice mismatch between substrate of Gallium arsenide and Indium phosphide and extended layer of heterojunction

2010-02

标准号
SJ 3244.2-1989
发布
1989年
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ 3244.2-1989
 
 
适用范围
本标准规定了异质结外延层与衬底之间晶格失配的测量原理、步骤、计算方法。 本标准适田于以下范围:外延层表面晶向偏差小于1.5^(·)。多层外延层总厚度不大于10μm。

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