SJ 2214.6-1982
半导体光敏三极管集电极.发射极反向击穿电压的测试方法
Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor phototransistors
- 标准号
- SJ 2214.6-1982
- 发布日期
- 1982年11月30日
- 实施日期
- 1983年07月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L54
- 国际标准分类号
- 31.260
- 发布单位
- CN-SJ
- 代替标准
- SJ/T 2214-2015