表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
清华大学分析中心李展平高工针对《ISO/TS 22933:2022 Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS》,进行《二次离子质谱(SIMS)质量分辨的测量》介绍,从原理入手,对比了不同种类仪器的二次离子质谱峰,...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved 京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号