静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会,关于质谱中相对强度的标准 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
(2) 飞行时间二次离子质谱法(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS) 是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。 ...
(2) 飞行时间二次离子质谱法(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。 ...
今后发展和改进的主要方向是:提高质谱分辨率,以减少和排除二次离子质谱干扰;实现多种质谱粒子探测,以获得样品和多种粒子的信息和资料;定量分析和离子溅射机理的研究;新型液态金属离子源的应用;离子探针与多种仪器(如X 射线光电子能谱、紫外光电子能谱、俄歇电子能谱)联用等。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号