IEC 60749-12:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分: 振动,可变频率

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency


标准号
IEC 60749-12:2002
发布
2002年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749-12:2002/COR1:2003
当前最新
IEC 60749-12:2017
 
 
被代替标准
IEC 47/1536A/CDV:2000 IEC 47/1606/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62187:2000
适用范围
IEC 60749 的这一部分描述了一项测试,以确定指定频率范围内的变频振动对内部结构元件的影响。这是一个破坏性的测试。它通常适用于空腔型封装。一般来说,这种变频振动测试符合 IEC 60068-2-6,但由于半导体的特殊要求,适用本标准的条款。

IEC 60749-12:2002相似标准


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