IEC 60749:1996
半导体器件 机械和气候试验方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

2002-04

 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 IEC 60749:1996 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

 

标准号
IEC 60749:1996
发布
1996年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749:1996/AMD1:2000
当前最新
IEC 60749:2002
 
 
被代替标准
IEC 47/1394/FDIS:1996 IEC 60749:1984 IEC 60749 AMD 1:1991 IEC 60749 AMD 2:1993

IEC 60749:1996相似标准

SJ/Z 9016-1987 半导体器件 机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 KS C IEC 60749:2004 半导体器件.机械和气候试验方法 KS C IEC 60749-2004(2020) 半导体器件机械和气候试验方法 IEC 60749:1984 半导体器件.机械和气候试验方法

推荐

29个半导体国家标准即将实施，12月1日有12个国标开始实施！

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。　　...

宏展仪器|一朝春醒 超长续航

宏展仪器是客户可靠的试验伙伴，客户产业遍及于电子、半导体、光电、通讯、航天、机械、实验室、汽车…等科技产业，欢迎前来咨询。...

工信部505项行标和53项推荐性国标计划项目征求意见

《半导体器件 机械和气候试验方法 第7部分：内部水汽含量测试和其它残余气体分析》等53项国家标准制修订计划（征求意见稿）.docx　　3. 标准立项反馈意见表.doc　　工业和信息化部科技司　　2018年4月27日...

谁引用了IEC 60749:1996 更多引用

GB/T 39393-2020 家用电器专用智能控制单元技术规范 GB/T 36357-2018 中功率半导体发光二极管芯片技术规范 GB/T 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范 GOST R IEC 61747-1-1-2015 液晶显示装置. 第1-1部分. 总则. 通用规格 BS EN 62149-2:2014 光纤有源组件和设备.性能标准.850 nm离散垂直空腔表面发射激光设备 BS IEC 62679-1-1:2014 电子纸显示器. 术语 BS EN 62149-8:2014 纤维光学有源元件和器件. 性能标准. 晶种反射半导体光学放大器设备 DIN EN 62149-7:2013 光纤有源元件和器件.性能标准.第7部分:1310 nm离散垂直孔面发射激光器(IEC 62149-7-2012).德文版本EN 62149-7-2012 GB/T 18910.1-2012 液晶显示器件 第1部分：总规范 DIN EN 62149-2:2010 纤维光学有源元件和器件.性能标准.第2部分:850mm离散垂直空腔表面发射激光器封装件


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号