ASTM F398-92(1997)
通过测量等离子体共振最小波数或波长测定半导体中多数载流子浓度的标准试验方法
Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum
- 标准号
- ASTM F398-92(1997)
- 发布
- 1997年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F398-92(2002)
- 当前最新
- ASTM F398-92(2002)
- 引用标准
- ASTM E275 ASTM F42 ASTM F43 ASTM F76 ASTM F84
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