ASTM E1504-11
次级离子质谱分析法中报告质谱数据的标准操作规程
Standard Practice for Reporting Mass Spectral Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
- 标准号
- ASTM E1504-11
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E1504-11(2019)
- 当前最新
- ASTM E1504-11(2019)
- 引用标准
- ASTM E673
- 适用范围
- 本实践旨在用于报告其他出版物中描述的实验和数据缩减程序。
1.1 本实践提供了描述用于采集和报告二次离子质谱 (SIMS) 的仪器、实验和数据缩减程序所需的最少信息。质谱数据。本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
ASTM E1504-11相似标准
推荐
一文了解质谱相对强度
国际标准化组织，关于质谱中相对强度的标准 ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性 法国标准化协会，关于质谱中相对强度的标准 NF X21-064-2009 表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
任重而道远 第三届质谱仪器研发论坛昆山闭幕
报告结合国际上公布的一些无机质谱方法验证指南和相关文献以及一些实际操作过程中的经验，系统的介绍了无机质谱在微量元素检测中方法开发的一些关键流程以及方法验证的关键要素，为推广临床实验室无机质谱技术做出帮助。 北京高能所 刘术林高工 北京高能所刘术林高工带来题为《基于次级电子发射的检测器机理研究》的精彩报告。...
质谱图的质谱中主要离子峰
从有机化合物的质谱图中可以看到许多离子峰，这些峰的m/z和相对强度取决于分子结构，并与仪器类型，实验条件有关。质谱中主要的离子峰有分子离子峰、碎片离子峰、同位素离子峰、重排离子峰及亚稳离子峰等。正是这些离子峰给出了丰富的质谱信息，为质谱分析法提供依据。分子受电子束轰击后失去一个电子而生成的离子M+称为分子离子，例如：M+e¨→M+ + 2e¨，在质谱图中由M+ 所形成的峰称为分子离子峰。...
厦门大学杭纬教授：快速定性定量质谱分析法
厦门大学杭纬教授 厦门大学杭纬教授发表主题为“快速定性定量质谱分析法”的精彩报告。报告指出在现有的无机质谱技术中，辉光放电、火花放电、激光溅射电感耦合等离子体、二次离子、激光溅射/电离质谱技术可用于固体的直接分析。辉光放电和火花放电离子源质谱技术通常要对样品进行预处理。...