ASTM F1261M-96
测定薄膜金属直线平均电宽度的标准试验方法[米制]

Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]

ASTM F1261M-96 发布历史

ASTM F1261M-96由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1996-01-01。

ASTM F1261M-96在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

ASTM F1261M-96的历代版本如下：

• 1996年 ASTM F1261M-1996 薄膜金属直线平均电宽度测定的标准试验方法
• 1996年 ASTM F1261M-1996(2003) 薄膜金属直线平均电宽度测定的标准试验方法
• 1996年01月01日 ASTM F1261M-96 测定薄膜金属直线平均电宽度的标准试验方法[米制]

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标准号

ASTM F1261M-96

发布日期

1996年01月01日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

US-ASTM