化合物中元素化学态与结构分析——窄区扫描（高分辨谱） 1. 什么叫荷电校正？为什么需要进行荷电校正？ 当用XPS测量绝缘体或者半导体时，由于光电子的连续发射而得不到电子补充，使得样品表面出现电子亏损，这种现象称为“荷电效应”。荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs，对电子的逃离有一定束缚作用。因此荷电效应将引起能量的位移，使得测量的结合能偏离真实值，造成测试结果的偏差。...
这时XPS中的俄歇线随化学环境的不同会表现出明显的位移,且与样品的荷电状况及谱仪的状态无关,因此可以用俄歇化学位移(例如测定Cu,Zn,Ag)及其线形来进行化学状态的鉴别。通常,通过计算俄歇参数来判断其化学状态。俄歇参数是指XPS谱图中窄俄歇电子峰的动能减去同一元素最强的光电子峰动能。它综合考虑了俄歇电子能谱和光电子能谱两方面的信息,因此可以更为精确地研究元素的化学状态。...
五、荷电中和系统用XPS测定绝缘体或半导体时,由于光电子的连续发射而得不到足够的电子补充,使得样品表面出现电子“亏损”,这种现象称为“荷电效应”。 荷电效应将使样品出现一个稳定的表面电势VS,它对光电子逃离有束缚作用,使谱线发生位移,还会使谱锋展宽、畸变。因此XPS中的这个装置可以在测试时产生低能电子束,来中和试样表面的电荷,减少荷电效应。...
她从制定我国俄歇电子能谱仪第一个“GB/T 26533俄歇电子能谱分析方法通则”开始，针对俄歇电子能谱仪（AES）和X射线光电子能谱仪（XPS）进行了深入系统的研究，相继开展制定了纳米材料定性定量分析绝缘类样品表面成分及化合态等12项表面化学分析方法国家标准，确定了仪器能量标不确定度等大型表面分析科学仪器校正校准方法，建立了国家实验室认证认可、计量认证资质认定的检测依据。...
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