俄歇电子强度与样品中对应原子的浓度有线性关系,据此可以进行元素的半定量分析。俄歇电子强度除与原子的浓度有关外,还与样品表面的光洁度、元素存在的化学状态以及仪器的状态(谱仪对不同能量的俄歇电子的传输效率不同)有关,谱仪的污染程度、样品表面的C和O的污染、吸附物的存在、激发源能量的不同均影响定量分析结果,所以,AES不是一种很好的定量分析方法,它给出的仅仅是半定量的分析结果。...
3)元素的化学态分析(a)结合能分析表面元素化学价态分析是XPS的最重要的一种分析功能,也是XPS谱图解析最难,比较容易发生错误的部分。在进行元素化学价态分析前,首先必须对结合能进行校准。因为结合能随化学环境的变化较小,而当荷电校准误差较大时,很容易标错元素的化学价态。...
表面分析方法表面分析方法有数十种,常用的有离子探针、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能电子衍射、电子能量损失谱、紫外线电子能谱等技术,以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析,又称离子探针显微分析。...
1925年法国的P.V.俄歇首先发现并解释了这种二次电子,后来被人们称为俄歇电子,但直到1967年俄歇电子能谱技术才用于研究金属问题。通过能量分析器和检测系统来检测俄歇电子能量和强度,可获得有关表面层化学成分的定性和定量信息,以及化学状态、电子态等情况。在适当的实验条件下,该方法对试样无破坏作用,可分析试样表面内几个原子层深度、数微米区域内除氢和氦以外的所有元素,对轻元素和超轻元素很灵敏。...
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