ASTM F980-16(2024)
硅半导体器件中中子引起的位移损伤的快速退火测量的标准指南

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices


 

 

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标准号
ASTM F980-16(2024)
发布
2024年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM F980-16(2024)
 
 

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