通过正确测定和解释AES的特征能量、强度、峰位移、谱线形状和宽度等信息,能直接或间接地获得固体表面的组成、浓度、化学状态等多种情报。定性分析定性分析主要是利用俄歇电子的特征能量值来确定固体表面的元素组成。能量的确定在积分谱中是指扣除背底后谱峰的最大值,在微分谱中通常规定负峰对应的能量值。习惯上用微分谱进行定性分析。...
手持光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器,当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线和原子发生碰撞的时候,驱逐出一个内层的电子从而出现一个空穴,让整个原子体系处于不稳定状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子,击出的光子可能再次被吸收从而逐出较外层的另一个次级光电子,发生俄歇效应,称之次级光电效应或无辐射效应,而逐出的次级电子称为俄歇电子。...
2.X射线荧光光谱仪(XRF)参见体相成分分析X射线荧光光谱仪(XRF)3.俄歇电子能谱仪(AES)原理:具有一定能量的电子束(或X射线)激发样品俄歇效应,通过检测俄歇电子的能量和强度,从而获得有关材料表面化学成分和结构的信息的方法。适合分析材料:金属、高分子等材料,薄膜,涂层等应用领域:半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等。...
这一过程被称之为俄歇效应一元素受激发后辐射出的X射线光子的能量等于受激原子中过渡电子在初始能态和终能态的能量差别,即发射的X射线光子能量与该特定元素的电子能态差成正比X射线荧光光谱仪是来源于样品组成的特征辐射。通过侧定和分析X射线的能量或波长,即可获知其为何种元素,故可用来识别物质组成,定量分析物质中的元素含量。 ...
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