DB52/T 1104-2016
半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法


DB52/T 1104-2016 发布历史

DB52/T 1104-2016由贵州省质量技术监督局 发布于 2016-04-01,并于 2016-10-01 实施。

DB52/T 1104-2016在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

DB52/T 1104-2016的历代版本如下:

  • 2016年04月01日 DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法

 

 

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标准号
DB52/T 1104-2016
发布日期
2016年04月01日
实施日期
2016年10月01日
废止日期
中国标准分类号
L 40
国际标准分类号
31.080.01
发布单位
贵州省质量技术监督局

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