KS C 0256-2002(2017)
具有四点探针的硅晶体和硅晶片的电阻率测试方法

Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four - point probe

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标准号: KS C 0256-2002(2017)
发布日期: 2002年05月29日
实施日期
废止日期: 无
国际标准分类号: 17.220.01
发布单位: KR-KS

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