KS C 0256-2002(2022)
硅晶体和硅片电阻率的四点探针测试方法

Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four - point probe

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标准号: KS C 0256-2002(2022)
发布: 2002年
发布单位: 韩国科技标准局
当前最新: KS C 0256-2002(2022)

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