CEI EN 60749-4:2017
半导体器件机械和气候测试方法第4部分：湿热、稳态、高加速应力测试（HAST）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

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标准号: CEI EN 60749-4:2017
发布: 2017年
发布单位: SCC
当前最新: CEI EN 60749-4:2017

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CEI EN 60749-4:2017半导体器件机械和气候测试方法 第4部分：湿热、稳态、高加速应力测试（HAST）

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