GB/T 4937.3-2012
半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分：外部目检
Semiconductor devices.Mechanical and climatic tests methods.Part 3:External visual examination
GBT4937.3-2012, GB4937.3-2012
- 标准号
- GB/T 4937.3-2012
- 别名
- GBT4937.3-2012, GB4937.3-2012
- 发布
- 2012年
- 采用标准
- IEC 60749-3:2002 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 4937.3-2012
- 适用范围
- GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验，适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。
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