T/CESA 1120-2020
人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
AI chips-Test metrics and test method of deep learning chips for edge side
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- 标准号
- T/CESA 1120-2020
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 中国团体标准
- 适用范围
- 本文件规定了对边缘侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于边缘侧深度学习芯片。本文件只规定边缘侧深度学习芯片基准测试的一般原则。 本文件适用于第三方机构对边缘侧深度学习芯片进行性能测试与评估,也适用于边缘侧深度学习芯片产品的采购、设计。 边缘侧芯片并不必须具备训练能力。