UNE-EN 62374-1:2010
半导体器件 第1部分：金属间层随时间介电击穿(TDDB)测试
Semiconductor devices -- Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
- 标准号
- UNE-EN 62374-1:2010
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- ES-UNE
- 当前最新
- UNE-EN 62374-1:2010
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