BS EN 62374-1:2010(2011)
半导体器件 第1部分：金属层间的时间相关介电击穿 (TDDB) 测试
Semiconductor devices Part 1 : Time - dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter - metal layers
- 标准号
- BS EN 62374-1:2010(2011)
- 发布
- 1970年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 62374-1:2010(2011)
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