JY/T 0584-2020
扫描电子显微镜分析方法通则

General Rules for Analytical Methods of Scanning Electron Microscopy

JYT0584-2020, JY0584-2020


JY/T 0584-2020 中,可能用到以下仪器设备

 

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HF-3300场发射透射电子显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

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日本电子株式会社(JEOL)

 

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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聚焦离子束系统

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ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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冷场发射球差校正透射电镜

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软X射线分光谱仪

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蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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JY/T 0584-2020

标准号
JY/T 0584-2020
别名
JYT0584-2020
JY0584-2020
发布
2020年
发布单位
行业标准-教育
当前最新
JY/T 0584-2020
 
 
被代替标准
JY/T 010-1996

JY/T 0584-2020相似标准


JY/T 0584-2020 中可能用到的仪器设备





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