ASTM E1588-95(2001)
用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南

Standard Guide for Gunshot Residue Analysis by Scanning Electron Microscopy/ Energy-Dispersive Spectroscopy

ASTM E1588-95(2001) 中，可能用到以下仪器设备

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜（原FEI）

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子JASM-6200 ClairScope 大气压扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JCM-6000plus NeoScope 台式扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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赛默飞电子显微镜（原FEI）

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

聚焦离子束系统

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ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

Apollo 300 扫描电镜

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统（GM）

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

泰思肯VEGA 3 LMU/LMH扫描电镜

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜（XMU/XMH）

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

泰思肯VEGA3 GMH/VEGA3 GMU扫描电镜

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超大样品室钨灯丝扫描电镜VEGA 3 XMU/XMH

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TESCAN MIRA3场发射扫描电镜（LMH/LMU）

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TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜

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TESCAN S8000G 高分辨镓离子型双束扫描电镜

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TESCAN S8000 超高分辨场发射扫描电镜

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泰思肯微型扫描电子显微镜Small Base

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TIMA-X(FEG GMU/GMH)大样品仓矿物分析仪系统

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GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)

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TESCAN 聚焦离子束扫描电镜 LYRA3(XM)

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TESCAN综合矿物分析仪 TIMA-X（LM）

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TESCAN MAIA3 model 2016 (XM)超高分辨场发射扫描电镜

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TESCAN VEGA3钨灯丝扫描电镜（LM）

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TESCAN MAIA3 model 2016 (LM)超高分辨场发射扫描电镜

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TESCAN MIRA3场发射定制版扫描电镜（AMU）

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TESCAN VEGA3大样品室钨灯丝扫描电镜（XM）

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GAIA3(XMU/XMH) Ga离子双束扫描电镜（FIB-SEM）

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TESCAN MIRA3场发射扫描电镜（GMH/GMU）

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TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)

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集成矿物分析仪 TIMA-X FEG（LM）

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TESCAN MAIA3 model 2016 (GM)超高分辨场发射扫描电镜

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标准号
ASTM E1588-95(2001)
发布
2001年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E1588-07
当前最新
ASTM E1588-20
 
 

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ASTM E1588-95(2001) 中可能用到的仪器设备

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