DIN 50452-3:1995
半导体工艺材料的检验.液体中颗粒分析的试验方法.第3部分:光学粒子计数器校正
Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 3: Calibration of optical particle counters
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：DIN 50452-3:1995 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- DIN 50452-3:1995
- 发布
- 1995年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN 50452-3:1995
- 该文件描述了基于激光散射测量来确定颗粒尺寸偏差、颗粒浓度和光学颗粒计数器分辨能力的测量方法。
推荐
干货！常见物理性能测试仪器设备档案
10、颗粒杂质与粒子计数器 He2Ne激光粒子计数器，可分析气体中011μm粒径的颗粒杂质；Ar2Kr激光粒子计数器可分析0105μm粒径颗粒杂质，目前已有可检测超高纯气中01005μm的粒子计数器。凝聚核粒子计数器可以测量纳微米的粒子。粒子计数器测量器具销售时具需按JJF1190-2008《尘埃粒子计数器校准规范》的要求出具法定校准证书。...
一文搞懂物理实验室12大仪器 别傻傻分不清
请颗粒杂质与粒子计数器He2Ne激光粒子计数器，可分析气体中011μm粒径的颗粒杂质；Ar2Kr激光粒子计数器可分析0105μm粒径颗粒杂质，目前已有可检测超高纯气中01005μm的粒子计数器。凝聚核粒子计数器可以测量纳微米的粒子。粒子计数器测量器具销售时具需按JJF1190-2008《尘埃粒子计数器校准规范》的要求出具法定校准证书。...
常见物理性能测试仪器设备档案
10、颗粒杂质与粒子计数器He2Ne激光粒子计数器，可分析气体中011μm粒径的颗粒杂质；Ar2Kr激光粒子计数器可分析0105μm粒径颗粒杂质，目前已有可检测超高纯气中01005μm的粒子计数器。凝聚核粒子计数器可以测量纳微米的粒子。粒子计数器测量器具销售时具需按JJF1190-2008《尘埃粒子计数器校准规范》的要求出具法定校准证书。...